Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Cu, buffer layers, SOE process, texture, microstructure, fabrication
Watanabe T., Maeda T., Mimura M., Ohashi Y., Hirabayashi I.(hirazum@istec.or.jp)
Osamura K., Ono T., Hirabayashi I., Matsumoto K., Takechi A.(takechi@kumax.kyoto-u.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni, SOE process, cap layers, PLD process, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Ji B.K., Jung C., Park S., Jun B., Hong G., Park H., Kim C., Sun J. ex-sun@kaeri.re.kr), Kim H.S.(hskim@cnu.ac.kr)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni, SOE process, MOCVD process, microstructure, fabrication
Wozniak U., Linker G.(Gerhard.Linker@ifp.fzk.de), Geerk J.(Jochen.Greek@ifp.fzk.de)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, substrate Ni, substrate Ni-Cr, SOE process, magnetron sputtering, microstructure, fabrication
Heinrich A.M., Woerz B.(Bernhard.Woerz@physik.uni-augsburg.de), Karl H.(helmut.Karl@physik.uni-augsburg.de), Stritzker B.(Bernd.Stritzker@physik.uni-augsburg.de)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate Ni-W, SOE process, fabrication, microstructure
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.